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硬盘绝密维修资料(6)


来源:      作者:      点击:次      时间:2010-02-23

三:通电观查指示灯闪得是否正常,闪一下为主芯片坏了。微闪,工作电压正常下为主芯片坏。微亮,工作电压正常下为主芯片坏,驱动芯片坏。
四:EL,CR,EX,CX,指示灯正常闪六下,其他闪十下,闪五下都为缓存接触不良或坏,还有就是主芯片接触不良或坏了。
五:看电路板的成色,成色好的多芯片坏,成色差的多会有接触不良。通电用手大力压芯片看是否会对盘的工作有影响。
六:电路板的芯片脚比较细,要有耐心和精力。吹芯片时温度也要调好,太高了会吹坏芯片。


火球电路板的分类
  火球PCB板的每种系列都比较不同,主芯片也不同。从外观上能识别出来。就是LCT系列中的706、702、303还有SE、ST板比较难识别。现将火球的电路板分类出来,以供参考:
1 、板:03 主芯片:14-108406-03
2 、板:501 主芯片:14-108406-02
3 、板:812、主芯片:14-108413-02
4 、板:411、412 主芯片:D9046CM 101
5 、板:013 主芯片:14-113271-02
6 、板:110、111 主芯片:14-113271-04
7 、板:701、702 主芯片:D760006GJ 101
8 、板:706 主芯片:D760006GJ 102
9 、板:303 主芯片:D760006GJ 106
10、板:906、907、908 主芯片:D8915GJ 101
11、板:206、207、208 主芯片:D760009GJ 101
12、板:314、315 主芯片:D760009GJ 103
13、板:306 主芯片:760009BGJ 104

IBM硬盘常见故障及维修方法:
1. 容易产生坏道。
原因:电路板与盘体的数据接口松动或接触不良引起的;速度传输过快引起坏道。
解决方法:电路板卸下,将接口部份清理一次(对IBM的硬盘一般第一步就是这样),然后将上回去,在上的同时,因为电路板在制作时有工程缺陷,所以上回去时应该尽可能的向外推,并将螺丝上得尽可能紧。如果看到电路板上的接口不平,可以用风枪加点松香处理一下,以便接口平滑。然后接上硬盘,如果数据不用保留可以用Hddl来给硬盘“清零”,或用DFT的“Erase Disk”,用Hddl要快很多,效果也不错,用DFT速度要慢,大概要一两小时,不过是IBM的专用工具,对IBM来说会更有效;而DDD-SI的话也是IBM的专用工具,是Windows下的,速度还要更慢,效果比DFT要好一些。如果用户要保留数据的话,可以用Mhdd的“Scan”来做修复,速度快,效果好,不过Glist会相应的填写较多的坏点。如果发现有坏道无法修复,一般是Glist满,要用PC3000转一次Plist再进行修复。
2. 硬盘开机有吱吱的规律异响,有可能能认到盘,也有可能不认。
原因:电路板与盘体的数据接口松动或接触不良引起的;驱动IC引起的;固件错误引起磁头偏位。
解决方法:接口部份同上。驱动IC引起的话,最好先换一块同产地的电路板,确定盘体正常的条件下再换驱动IC,其实确定板的好坏有一个更直接的办法,就是将电路板跳成安全模式,看看主板能不能认到盘(认错参数也没事),要是能认到说明板基本没有问题。在换电路板时要连原来的Bios一起换,否则会引起不认盘。如果保证板是好的,而还是不认盘的话,可以试一下用PC3000从写硬盘的固件,分别是硬盘的LDR,FW,和Bios信息,如果写成功认到盘,一般数据都不会在了,用PC3000修一次坏道,再用Mhdd修一次(以防PC3000漏扫)。
3. 硬盘不能通电。
原因:由于5V电压不正常引起5V供电电路保护。
解决方法:沿5V供电走,找到保护的电容(一般是电容),直接将其去除。一般都能解决问题,不过此电容比较隐蔽,而且很多电路板上的位置都不一样,所以还要慢慢查,要是找不到,可以直接换一块同产地的电路板试一下能不能正常使用。


第 八 章 常用维修软件

MHDD说明

各命令的解释
exit <ALT+X> 推出命令

id 盘检测

scan <F4> 扫描功能 S 表明测试
Log = mhdd.log.检测后的结果是否写入MDDD.LOG文件
[Remap: On/Off] - 坏扇区重新影射在

aerase 高级擦除,速度很慢
hpa 更改大小,当然,要硬盘支持这种技术,1999年以后的硬盘都支持
rhpa 恢复原盘的大小
cls 清屏
pwd 设置密码
unlock 解锁
dispwd 去掉密码,前提是要用unlock后,而且你还要知道密码
nhpa 显示全部的硬盘空间
aam 降低硬盘的运行中的声音,磁盘性能也同时降低,P最大(性能最高),M最小(性能最低);
init < F3> 磁盘复位
fdisk 在磁盘上分区
smart smart
makebad 创建坏道
port <SHIFT+F3> 选择硬盘.
stop <SHIFT+F4> 停止测试
i <F2> 重新安排硬盘检测
cx 可以检验昆腾CX和LCT系列硬盘5247芯片的稳定性
erase 快速擦除

启动MHDD
如果硬盘上缺少MHDD.CFG文件,程序会自己建立它,然后才选择存储器工作(按<SHIFT+F3>键或打入命令“port”)。角括号里指快借键,它可以不必再按<ENTER>。选中了存储器,我们会看到命令行[ mhdd> ]。按组合键将自动“进入”相应的命令。

顶上一行是会闪亮的略语:左半部是寄存器状况,
它反映硬盘最重要的几种情况。
BUSY 存储器对命令无反应
DRDY 存储器找到
WRFT 写入错误
DRSC 存储器初检通过
DREQ 存储器接受信息交换
CORR
INDX
ERR 该处红色闪亮,指出现某种错误,同时右半部的状态指示反映错误的形态。

右半部(当左半部“ERR”闪红时)
AMNF 地址标记出错,
T0NF 找不到0磁道
ABRT Abort,拒绝命令
IDNF 扇区标志出错
UNCR 校验错误,又称ECC错误
BBK 坏块标记错误

2部分之间有一块空档。如果硬盘被加密,那里就会亮起红色“PWD”字样,而如果是作过HPA“截短”处理,则闪亮“HPA”,就只有这2种。
在这一行状态指示下面是硬盘的参数。
左半部反映硬盘的现有参数(启动时需按下<F2>),右半部分是测试时磁头位置。
在表面测试时,右边会有一个窗口。第一行是测试速度;底下是2个完成百分比数。
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